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仪器设备

X射线荧光光谱仪(XRF)

【型号】Rigaku ZSX Primus Ⅱ

【生产厂家】日本理学

【性能指标】

1.高灵敏度测试超轻元素,4 kW、30 μm薄窗X射线光管;

2.采用48样品交换器,实现平台式共享化;

3.双真空系统(样品室/预抽真空室),防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统;

4.高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100 μm;

5.分光晶体:RX-25, RX-61, RX-75

【特性和优点】

X射线荧光光谱仪主要是由X射线光管发出的初级X射线激发试样中的原子,产生的次级X射线通过晶体分光并用探测器测量,根据各元素特征X荧光光谱的波长和强度值进行元素的定性和定量分析。ZSX Primus Ⅱ是波长色散扫描荧光光谱仪,可以对4Be到92U进行定性、定量分析。使用4 kW、30 μm超薄窗、超尖锐、长寿命X光管,最适合超轻元素分析。元素的检量范围从0.0001%-100%,如进行前处理,可以再下降2-3个数量级。

【主要功能和应用】

ZSX Primus Ⅱ主要用于岩石、土壤、植物、环境调查样品、地球化学样品中K、Ca、Na、Mg、Si、Al等主量元素以及Ba、Sr、La等微量稀土元素的测试。可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、液体样品。可以分析的领域包括:电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护等。